型号： 65120P

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LCR测试仪本机种一共有七种机型，分别是20Hz~5MHz 20Hz~10MHz 20Hz~15MHz 20Hz~20MHz 20Hz~30MHz 20Hz~50MHz 20Hz~120MHz +/-0.05%准确度。

型号： 1J65120B

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英国稳科阻抗分析仪6500系针对广泛多样的用户及不同的需求，包括被动组件设计师、电介体、绝缘体材料的研发测试人员以及生产线上的负责人员，本系列产品提供高频的阻抗测试（可达120M Hz），应用于对组件特性的分析。高速量测及完整的测试功能，使该系列成为强有力的工具USB接口能直接储存曲线图形及量测数据，大型TFT触摸显示屏令该产品更为简单易用，精细的扫描分辨率（1mHz）使共振频率的量测而快速。

型号： 1J1020

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阻抗分析仪介电及薄膜测试治具1J1020测试治具配合WK6500B系列精密阻抗分析仪或者在WK6500P高频LCR表上使用，最高频率可达40MHz。 夹具设计用于夹持平面圆盘状材料，材料直径不小于38mm，厚度不大于15mm。 1J1020夹具的两端电极之间的间距是可调整的，并通过千分尺测量。 频率范围：20Hz~40MHz

型号： 1J6565-120

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WK6500B+WK6565稳科高频直流偏流源可以允许使用高于标准200mA的直流偏置电流对绕组元件线圈中的高频信号进行测量分析，广泛的应用于材料分析：电解质、磁导率、生物医学技术；CV测量：半导体、功率MOSFET NFC、无线充电、EMI、bead、physics patches等。

型号： 1J6565-30

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WK6500B+WK6565稳科高频直流偏流源可以允许使用高于标准200mA的直流偏置电流对绕组元件线圈中的高频信号进行测量分析，广泛的应用于材料分析：电解质、磁导率、生物医学技术；CV测量：半导体、功率MOSFET NFC、无线充电、EMI、bead、physics patches等。

型号： 1J6565-05

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WK6500B+WK6565稳科高频直流偏流源可以允许使用高于标准200mA的直流偏置电流对绕组元件线圈中的高频信号进行测量分析，广泛的应用于材料分析：电解质、磁导率、生物医学技术；CV测量：半导体、功率MOSFET NFC、无线充电、EMI、bead、physics patches等。